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技術文章
TECHNICAL ARTICLES在追求微觀世界精確數據的道路上，科研人員與工程師們常常陷入兩難：是追求數據的全面性，還是保證檢測的高效性？尤其當面對具有重復性結構的樣品時，傳統手動測量方式已成為瓶頸。Sensofar推出的Slynx2光學輪廓儀，其全新的自動化流程模塊（APM），正是為了打破這一瓶頸，將繁瑣的測量任務轉化為高效、可靠的自動化流程。01精準定義，一鍵執行：APM的工作哲學APM的核心，在于將專家的測量知識轉化為可重復執行的標準化程序。用戶無需重復繁瑣的操作，只需在直觀的軟件界面中定義好測量路徑...
在掃描電子顯微鏡的微觀世界里，科研人員常常會遇到一個令人困惑的現象：當觀察陶瓷、高分子聚合物等絕緣樣品時，圖像會出現異常亮區、扭曲漂移，甚至瞬間的“閃白光”。這些“幽靈閃光”背后，究竟隱藏著怎樣的物理奧秘？電荷積累效應的物理本質掃描電鏡通過發射高能電子束掃描樣品表面，通過檢測二次電子和背散射電子信號來成像。當電子束轟擊絕緣樣品時，注入的電子無法像在導電樣品中那樣快速導出，從而在局部形成負電荷區。這些累積的電荷會產生靜電場，嚴重干擾后續電子束的掃描路徑和信號電子的軌跡，導致圖像...
在精密制造領域，刀具的質量檢測直接關系到加工零件的精度和表面質量。Sneox五軸3D光學輪廓儀的出現，為刀具檢測提供了一種全新的高效測量方案。高精度旋轉平臺，穩定可靠的硬件支撐儀器的核心是它的五軸旋轉平臺，配備高精度電動旋轉A軸，支持360°無限旋轉，定位重復性達到驚人的1弧秒。電動B軸的工作范圍為-30°至110°，定位精度為0.5弧分，并配備限位開關確保安全。同時，系統集成的System3R夾緊系統進一步保證了測量的穩定性。突破技術局限，精準測量微小特征Sneox五軸系統...
Linkam冷熱臺作為科研實驗室和制藥工業中廣泛使用的溫度控制設備，能夠實現樣品從室溫到高溫或低溫的快速升溫和降溫。正確的保養維護不僅能延長設備使用壽命，更能確保實驗數據的準確性和設備的長期穩定運行。本文將為您詳細介紹Linkam冷熱臺的保養要點。一、日常清潔與使用規范1.清潔工作是保養的基礎。每次使用后，應等待設備冷卻至室溫，使用無水乙醇棉球輕輕擦拭樣品臺面，重點清理樣品放置區域。對于頑固污漬，可使用稀鹽酸（1:10）浸泡10分鐘，隨后用去離子水沖洗并烘干。嚴禁使用硬物刮擦...
澤攸ZEM20臺式電鏡的性能建立在其扎實的硬件設計和材料選擇之上。從其電子光源到信號收集系統，每一個組件的設計都影響著最終的分析結果。電子光學系統是電鏡的“心臟”。ZEM20采用鎢燈絲電子槍作為發射源。這是一種經久耐用、經濟實惠且操作穩定的技術方案。雖然其亮度不及場發射槍，但對于臺式電鏡的應用場景而言，其性能足以滿足大部分日常觀測需求，且在維護成本和操作簡便性上具有優勢。鏡筒內的電磁透鏡由高導磁材料制成，其設計旨在有效聚焦電子束，減小像差，從而保證在寬放大倍數范圍內都能獲得清...
SensofarSneox通過共聚焦、干涉、多焦面疊加技術的無縫切換，實現了從亞納米級光滑表面到毫米級粗糙結構的全范圍測量覆蓋。共聚焦技術通過針孔過濾非焦點光線，獲取高對比度二維圖像，縱向掃描后構建3D形貌。該模式橫向分辨率達0.10μm，搭配150倍、0.95數值孔徑鏡頭時，光滑表面測量斜率達70°，粗糙表面達86°，Z軸測量重復性穩定在納米級別。適用于微小線條、縫隙等精細結構的識別，如半導體芯片的線路形貌檢測。白光干涉與相位移干涉模式針對不同光滑度表面優化：白光干涉縱向分...
點擊藍字關注我們在半導體制造工藝中，刻蝕作為關鍵工藝環節，其精度直接決定著芯片性能的優劣。傳統測量方法在面對復雜的刻蝕剖面時往往力不從心，而SensofarSneox3D光學輪廓儀的出現，為這一難題帶來了突破性解決方案。刻蝕工藝的測量挑戰刻蝕工藝通過濕法刻蝕或干法刻蝕方式，選擇性去除晶片材料以塑造電路特征。在這個過程中，刻蝕深度均勻性和側壁角度精度成為影響器件性能的關鍵參數。特別是隨著器件尺寸的不斷縮小，對測量精度的要求也越來越高。突破性技術優勢SensofarSneox3D...
在半導體制造、光學元件檢測與生物醫學工程領域，表面形貌的納米級差異往往決定著產品性能的成敗。西班牙Sensofar白光干涉儀憑借其獨特的復合光學系統與智能算法，成為全球精密測量領域的標準設備。本文將解析其核心構造原理，并揭示條紋觀測背后的技術突破。一、四大核心系統構建測量基石Sensofar白光干涉儀采用“共聚焦+白光干涉”雙模融合架構，通過精密光學設計實現亞納米級垂直分辨率。其核心系統包括：1.光源與分光模塊：采用LED白光光源（400-700nm），經分光棱鏡分為測量光路...